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sugawara菅原氙氣閃光燈產(chǎn)品應(yīng)用
sugawara菅原氙氣閃光燈產(chǎn)品應(yīng)用sugawara菅原氙氣閃光燈產(chǎn)品應(yīng)用sugawara菅原氙氣閃光燈產(chǎn)品應(yīng)用
氙氣燈用途廣泛,適用于各種行業(yè)。作為閃頻儀,它可以用于大學(xué)和實(shí)驗(yàn)室的學(xué)習(xí)和研究?!≡诠I(yè)領(lǐng)域,可為光學(xué)檢測(cè)提供高速光源。
作為熱源,用于物體的熱物理特性測(cè)試和紅外無(wú)損檢測(cè)設(shè)備 亦可用于退火硅片;在光伏領(lǐng)域,用于測(cè)試 蓄電池的電壓和電流;近年來也被用于印刷電路板領(lǐng)域的納米技術(shù)領(lǐng)域。
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半導(dǎo)體芯片檢測(cè)應(yīng)用
把氙氣閃光燈光源和攝像機(jī)裝置用同一根光纖連接并固定在6個(gè)不同的位置角度,可以捕獲高速通過的微小芯片等物體,檢測(cè)產(chǎn)品質(zhì)量,效率可達(dá)1200片每分鐘。
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雙光源測(cè)試設(shè)備---成像術(shù)形狀測(cè)量法通過多角度不同位置光源照射來測(cè)試目標(biāo)物體形狀,從而更有效的了解目標(biāo)物體的圖像情況,是我們目前*為重要的研究與應(yīng)用。當(dāng)物體表面被從各方位的高強(qiáng)度亮光照射后,可以幫我們確認(rèn)目標(biāo)物體的準(zhǔn)確位置和外觀形狀,這種方法也被用于探測(cè)受災(zāi)(如臺(tái)風(fēng)等)面積等的評(píng)估,或者是醫(yī)學(xué)上通過常規(guī)內(nèi)窺鏡無(wú)法確定的一些病理形狀等的界定,使得我們的內(nèi)科診斷更**可靠。這種立體成象術(shù)更有利于工業(yè)發(fā)展和降低災(zāi)難病害程度。
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半導(dǎo)體壽命測(cè)試系統(tǒng)
在半導(dǎo)體硅板的加工過程中,越來越多的制造廠商開始重視對(duì)其壽命的測(cè)試,這個(gè)測(cè)試涉及對(duì)金屬雜質(zhì)含量及結(jié)晶瑕疵的判斷和分析。因此日本NAPSON公司結(jié)合SUGAWARA的閃頻儀技術(shù),研發(fā)設(shè)計(jì)出針對(duì)硅板壽命測(cè)試的專用檢測(cè)設(shè)備。
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揚(yáng)聲器振動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)為了產(chǎn)生上等的聲音,揚(yáng)聲器的喇叭振幅等至關(guān)重要,我們可以通過閃頻儀裝置,來檢測(cè)在聲音發(fā)生時(shí)喇叭的振動(dòng)狀態(tài),同步頻率的閃光燈,使肉眼能夠直接觀察到震動(dòng)的物體,相對(duì)靜止,從而清晰觀測(cè)到震動(dòng)的情況。
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噴墨打印機(jī)噴墨狀態(tài)觀測(cè)系統(tǒng)這款納秒級(jí)脈沖閃頻裝置廣泛用于實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和觀察噴墨狀態(tài)。
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聲波檢測(cè)系統(tǒng)
菅原的這款納秒級(jí)脈沖氙氣閃光燈主要用于觀測(cè)與聲波相關(guān)的視覺成像,10 kHz 至100 kHz聲域范圍的超音波在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。
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半導(dǎo)體曝光裝置應(yīng)用氙氣閃光燈做為光源與先進(jìn)的半導(dǎo)體曝光系統(tǒng)結(jié)合,發(fā)出激光照射目標(biāo)物,觀察噴射磁狀態(tài)。
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有機(jī)物中的陽(yáng)離子形態(tài)觀測(cè)這款氙氣閃光燈做為光源,用激光照射有機(jī)物中的陽(yáng)離子,觀察它被激活后的狀態(tài)情況。
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壓縮液體的沖擊波反射探討研發(fā)
這款納秒級(jí)脈沖氙氣閃光燈做為光源,采用的是條紋成象法,用于觀測(cè)反射波的生成現(xiàn)象。
案例: 肉眼觀察到的脈沖波沖擊斜面實(shí)驗(yàn)。 -
螺旋槳形成的空氣渦流攝影船的螺旋槳在水下啟動(dòng)后形成的動(dòng)態(tài)效應(yīng)即渦旋效應(yīng),這一現(xiàn)象可用于判斷船的推進(jìn)器能力和損壞測(cè)定。
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半導(dǎo)體退火(熱處理)應(yīng)用如今半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展日新月異,在我們的生活中占比日益加重,對(duì)加工技術(shù)的要求也越來越高,半導(dǎo)體硅片的要求更加輕薄。 我們知道半導(dǎo)體層是將多種不同的成分物質(zhì)混合硅晶片構(gòu)成,這些也被稱做是“添加劑”, 在這個(gè)過程中我們把雜質(zhì)物加熱然后重新結(jié)晶,組合成半導(dǎo)體層,如果加熱過度,則會(huì)使雜質(zhì)深入至硅片,形成較厚的層次,所以利用我們的氙氣閃光燈只對(duì)半導(dǎo)體表層進(jìn)行短暫加熱,有效控制過度加熱,防止雜物進(jìn)入硅片,保證半導(dǎo)體的質(zhì)量。
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納米油墨的金屬燒結(jié)和烘干應(yīng)用
目前這類應(yīng)用主要是電路板制作過程中對(duì)金屬油墨的烘干和燒結(jié),在用油墨將模型圖形印制在電路板的過程中,需要將金屬(例如銀或銅)納米粒加熱融化后燒結(jié)。因?yàn)殂y粒子的烘干和燒結(jié)溫度比較低(低于100°C溫度),所以對(duì)其加熱退火的過程要求也非常高,用我們的氙氣閃光燈做為熱源對(duì)基材造成的熱影響微乎其微,因此可以對(duì)各種材料進(jìn)行油墨燒結(jié),甚至可以對(duì)塑料材質(zhì)進(jìn)行處理。
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脈沖熱源用于對(duì)物體熱特性的測(cè)試(通過**控制加熱時(shí)間來降低測(cè)試誤差)物體的熱特性測(cè)試是指物體的熱擴(kuò)散能力,對(duì)樣品的一面進(jìn)行加熱,測(cè)試物體傳熱至另一面的過程,從而得出物體的熱擴(kuò)散能力特性,但必須具備以下兩個(gè)前提:在這個(gè)過程中沒有熱量擴(kuò)散至環(huán)境中,加熱脈沖寬度為零。 雖然氙氣閃光燈和激光同樣可以做為此熱源,但氙氣閃光燈憑借其低成本,更寬廣的加熱范圍和緊湊小巧的體積,更具使用優(yōu)勢(shì)。
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紅外線照射對(duì)材料內(nèi)部裂縫瑕疵等進(jìn)行非破壞性檢測(cè)診斷應(yīng)用(通過對(duì)材料表面加熱后產(chǎn)生的溫度波動(dòng)來判斷)氙氣閃光燈作為熱源對(duì)樣品表面加熱,通過溫度計(jì)測(cè)試物體溫度波動(dòng)情況,當(dāng)溫度計(jì)顯示的溫度不規(guī)則時(shí),表明熱傳導(dǎo)條件受到破壞,以此判斷物體內(nèi)部的有瑕疵和裂痕等,這個(gè)過程之所以必須選擇用閃頻儀,是因?yàn)殡瘹忾W光燈可以只針對(duì)物體表面進(jìn)行短暫加熱,不會(huì)對(duì)物體本身有破壞性影響。
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UV紫外線**用光源(瞬間釋放強(qiáng)度達(dá)200nm到300nm的脈沖光,連通DNA一并殺死的瞬間**方法)這款專用光源可瞬間釋放200nm到300nm高強(qiáng)度UV閃光,峰值高達(dá)265nm,針對(duì)微小**連同DNA一并殺死的****。目前使用較多的是采用低壓水銀燈泡發(fā)出的強(qiáng)度為254nm單一光譜閃光來進(jìn)行**,但使用范圍和能力受限。而采用閃頻儀發(fā)出的高脈沖光方式**效果更快捷,更有效,使用范圍也更寬廣。
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熒光滲透探傷法對(duì)事物進(jìn)行非破壞性檢查這種方法用于探測(cè)肉眼無(wú)法察覺的事物內(nèi)部裂縫,在樣品的表面上涂上一層熒光劑,待滲透至裂縫處后,再用氙氣閃光燈發(fā)出的紫外光照射,這種方法也可用在產(chǎn)線上瑕疵品檢測(cè),對(duì)運(yùn)動(dòng)中的樣品進(jìn)行探傷檢測(cè)。
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作為紫外線光源對(duì)粘合劑,樹脂等進(jìn)行硬化處理(利用閃頻儀能發(fā)出高強(qiáng)度高速度光源,但對(duì)物體熱影響極小的原理)紫外線固化法主要用于對(duì)粘合劑,樹脂,黑水,漆等的固化處理,用氙氣閃光燈做為光源,比普通高壓汞燈固化時(shí)間更少,對(duì)物體本身產(chǎn)生的熱影響極低。